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STS 6100 数字集成电路测试系统

STS 6100 数字集成电路测试系统

系统功能与特点:

  • 覆盖各类数字电路的功能、直流参数及交流参数测试

  • 系统测试速率100MHz;数字系统定时精度±1nS

  • 高压数字通道板(24pin/48pin),驱动比较电平-1~20V,满足高压CMOS测试要求

  • 系统配置16路程控电源及8路精密测量单元

  • 系统配置灵活,可兼顾高压/高速器件测试,最大512个数字I/O管脚

  • 填表式的菜单编程,同时支持使用高级语言对特殊参数编程

  • 具有“学习法”,便于开发复杂VLSI器件测试图形向量

  • 系统配置算法图形发生器,用于存储器的测试

系统测试器件类型:

  • 通用数字电路:TTL/CMOS

  • 存储器(Memory)

  • 总线接口电路(BID)

  • 微控制器/中央处理器(CPU)

  • 可编程逻辑电路(PLD)

  • 现场可编程门阵列(FPGA)

  • 数字信号处理(DSP)

  • 模拟开关(Analog Switch)

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